Navigation und Service


LEEM/PEEM 9

14 - 18 September 2014

Berlin, Germany

Anfang
14.09.2014
Ende
18.09.2014
Veranstaltungsort
Berlin, Germany

Scope

The Workshop on LEEM/PEEM is a biennial meeting reviewing the status of immersion lens microscopies such as Low Energy Electron Microscopy (LEEM), Photoelectron Emission Microscopy (PEEM), spin-polarized LEEM (SPLEEM), X-Ray PEEM (XPEEM) and related microscopy and spectromicroscopy techniques. It started in Tempe, Arizona, in 1998 and since then moved between America, Europe and Asia. Its aim is to discuss scientific advances in the fields of surface and solid state physics, disseminate knowledge and promote applications of cathode lens microscopy to a broad audience of interested scientists.

Weitere Informationen


Kontakt

Prof.Dr. Claus Michael Schneider
Telefon: +49 2461 61-4428
Fax: +49 2461 61-2620
E-Mail: c.m.schneider@fz-juelich.de

Servicemenü

Homepage

Logo

 

 

 

IHRE MEINUNG IST UNS WICHTIG!

 

Liebe Besucherin, lieber Besucher,

um unsere Website-Inhalte zukünftig noch besser an Ihre Bedürfnissen anzupassen und die Website damit noch attraktiver zu gestalten, möchten wir Ihnen heute ein paar kurze Fragen stellen.

Die Beantwortung der Fragen dauert ca. 10 Minuten.

Jetzt teilnehmen Nicht teilnehmen

Vielen Dank für Ihre Unterstützung!

 

Haben Sie im Moment keine Zeit oder haben Sie bereits an unserer Online-Befragung teilgenommen, dann können Sie das Fenster "hier" einfach schließen.

Wenden Sie sich bei Fragen rund um die Befragung gerne an: webumfrage@fz-juelich.de.

 

Ihr Team des Forschungszentrums Jülich

 

Hinweis: Zur anonymen Auswertung Ihrer Daten hat das Forschungszentrum Jülich das Markforschungsinstitut SKOPOS mit der Durchführung und Auswertung der Befragung beauftragt. SKOPOS handelt in übereinstimmung mit den gesetzlichen Bestimmungen zum Datenschutz und den Richtlinien des ADM (Arbeitskreis Deutscher Markt- und Sozialforschungsinstitute e.V.) und der ESOMAR (Europäische Gesellschaft für Meinungs- und Marketingforschung). Ihre Daten werden nicht an Dritte weitergegeben.