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Institut für Energie- und Klimaforschung

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Neue höchstauflösende Elektronenmikroskopie installiert

Die analytische Elektronenmikroskopie dient der Untersuchung der Mikrostruktur und mikrostruktureller Veränderungen in Folge von mechanischen, thermischen und/oder chemischen Belastungen. Das Labor verfügt über ein analytisch voll ausgestattetes Transmissions-Elektronenmikroskop (TEM) Zeiss Libra 200 Cs, welches mittels eines Objektiv-Cs-Korrektors z.Zt. eine Auflösung < 90 pm erreicht. Zur Untersuchung der Kristallstruktur und Kristallbaufehlern sind neben den Standard-Abbildungstechniken und der Hochauflösung auch CBED und Prezession-Beugungsanalysen möglich. Zur mikrostrukturellen chemische Analyse werden EDX und EELS/ESI mittels In-Column Energiefilter (korrigierter Ω-Filter) eingesetzt. Als weitere Untersuchungsmethode kommt die Elektronen-Tomographie mittels TEM zum Einsatz.

3D-Darstellung (FIB-Tomographie) der Verteilung von Laves-Phasen in einem ferritischen Cr-Stahl3D-Darstellung (FIB-Tomographie) der Verteilung von Laves-Phasen in einem ferritischen Cr-Stahl

Die analytische Elektronenmikroskopie verfügt über ein eigenes Labor zur Probenpräparation für metallische und keramische Materialien, in dem Techniken des elektrolytischen Polierens, Sandwich-Schichtenpräparation und Pulver-Suspensions-Präparation angewendet werden. Neben diesen konventionellen Methoden verfügt das Labor über eine Zweistrahl-Focused Ion Beam Anlage Zeiss Auriga, die sowohl bei der TEM-Probenpräparation als auch beim Ensatz neuerer Methoden der Tomographie zur Anwendung kommt. Dabei wird zwischen FIB-Tomographie (3D-Strukturdarstellung), EBSD-Tomographie (3D Kristallographie) und EDX-Tomographie (3D-Elementverteilung) unterschieden.

Das Labor für Analytische Elektronenmikroskopie ist Partner des International Centre of Electron Microscopy for Materials Science an der AGH University of Science and Technology in Krakau, Polen, welches sich mit der Untersuchung industrieller Werkstoffe für industrielle Anwendungen und der Methodenentwicklung im Rahmen der Elektronenmikroskopie befasst.



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