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Elektronische Materialien (PGI-7)
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Atomare Auflösung
Leitend oder nicht – Nanoschalter für Computer der Zukunft atomgenau vermessen
Jülich, 22. Juni 2018 - Ein Team deutscher und polnischer Wissenschaftler hat am FZ Jülich erstmals die Leitfähigkeit von Metalloxidoberflächen mit atomarer Auflösung abgebildet. Mit Hilfe der neuen Technik lassen sich innovative Materialien für die Informationsverarbeitung genauer untersuchen und leichter identifizieren. Die von den Forschern verwendete Technik der Leitfähigkeitsrasterkraftmikroskopie (LC-AFM) kann auch auf schlecht oder inhomogen leitenden Oberflächen angewendet werden, die typisch für die Materialklasse sind.
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JARA FIT

Neue Konzepte in der Informationstechnologie. JARA_FIT

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Computersimulation mit Hochleistungsrechnern. JARA_HPC

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Das Electronic Materials Research Lab (EMRL) besteht aus dem IWE II an der RWTH Aachen und dem IEM am Forschungszentrum Jülich. EMRL


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