Suche

zur Hauptseite

Zentralinstitut für Engineering, Elektronik und Analytik (ZEA)
(leer)

Navigation und Service


Atomemissionsspektralanalyse mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-OES)

Methodenbeschreibung

Die ICP-OES macht sich die Eigenschaft der Elemente zunutze, dass Atome aus einem induktiv gekoppelten Plasma Energie aufnehmen können, dabei angeregt werden und unter Abgabe einer charakteristischen Strahlung wieder in ihren Grundzustand zurückfallen. Die Identifizierung dieser Strahlung ermöglicht die qualitative Analyse einer Probe. Die quantitative Bestimmung erfolgt auf der Grundlage der Proportionalität von Strahlungsintensität und Elementkonzentration in Eich- und Analysenproben.

Bei der ICP-OES-Analyse wird die flüssige Probe über ein Zerstäubersystem in das induktiv erzeugte Argonplasma eingebracht und angeregt. Das emittierte Spektrum wird in ein Spektrometer übertragen und dort in die einzelnen Wellenlängen zerlegt und ausgewertet. Die Intensitäten der Spektrallinien werden mit CID-Halbleiterdetektoren gemessen. Geeicht wird mit aus Standardlösungen gemischten Multielementlösungen.

Merkmale der ICP-OES

  • Das Verfahren eignet sich für die Multielementbestimmung in Lösungen oder nach entsprechender Probenvorbereitung in Lösung gebrachter Feststoffproben.
  • Nachweisbare Elemente ca. 70 , erfassbarer Konzentrations-bereich von einigen µg/l bis 2 % in Lösung bzw. 1 µg/g bis 100 % in Feststoffen.
  • Genauigkeit 1-3 % für Hauptelemente, für Spuren ± 10-30 %.
  • Besonders geeignet für Stöchiometriebestimmungen, Materialkontrollen, Werkstoffbestimmungen
  • Probemengen mindestens 1-10 mg für Hauptelemente, für Spuren 100-500 mg.
  • Messzeiten von in der Regel wenigen Minuten je Probe, für Festkörperproben muss eine zeitlich möglicherweise aufwendige Probenvorbereitung berücksichtigt werden

Probenvorbereitung

Zur Probenvorbereitung festen Probenmaterials werden Aufschlussmethoden wie z.B. Mikrowellen-, Hochdruck-, Schmelz- und Säureaufschlüsse eingesetzt.

Materialbeispiele

Stähle, Nickelbasislegierungen, Leichtmetalle, Gesteine, Minerale, Kohlen, Aschen, Gläser, Keramiken, Wasser-und Abwasserproben, Böden, Pflanzen, Nährlösungen, Öle, Bulkanalyse dünner Schichten, Hochtemperatursupraleiter, Mischoxide, Perowskite, elektrokeramische Werkstoffe, Zirkonoxide, u.a.m.

Apparative Ausstattung

TJA-IRIS-INTREPID: Spektrometer mit Echelle-Optik und CID-Halbleiterdetektor, axiale und radiale Betrachtung, Wellenlägenbereich 165 - 900 nm

Thermo Scientific iCAP6500: Spektrometer mit Echelle-Optik und CID-Halbleiterdetektor, axiale und radiale Betrachtung, Wellenlängenbereich 166-847 nm

Thermo Scientific iCAP7600: Spektrometer mit Echelle-Optik und CID-Halbleiterdetektor, axiale und radiale Betrachtung, Wellenlängenbereich 166-847 nm

Ansprechpartntner:

Frau H. Lippert Tel.: 02461-61 5892


Servicemenü

Homepage