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Zentralinstitut für Engineering, Elektronik und Analytik (ZEA)
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Röntgendiffrakometrie (XRD)

Methodenbeschreibung

Die Röntgendiffrakometrie ist eine zerstörungsfreie Methode zur Strukturanalyse von Kristallen.

Grundlagen

Die XRD benutzt die Eigenschaft von Kristallgittern, monochromatisches Röntgenlicht zu beugen. Dabei treten Interferenzen der an den aufeinanderfolgenden ebenen gestreuten Wellen auf, die durch die Bragg’sche Gleichung beschrieben werden.

Mit Hilfe der XRD lassen sich so neben einer qualitativen und quantitativen Phasenanalyse auch  Kristallstruktur (Gitterparameter), Kristallorientierung, Kristallitgrößen und Kristallinität einer Probe bestimmen.

Apparative Ausstattung

Die Analysen werden von einem externen Kooperationslabor durchgeführt. Es stehen sowohl Transmissions- als auch Reflexionsgeräte zur Verfügung.

Anforderungen an die Probe:

Es können sowohl Pulver in Transmission als auch planparallele Stücke oder dünne Schichten auf Substraten in Reflexion gemessen werden.

Ansprechpartner:

Frau Dr. A. Besmehn Tel.: 02461-61 6774


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