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Zentralinstitut für Engineering, Elektronik und Analytik (ZEA)
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Rasterkraftmikroskopie (AFM- Atomic Force Microscopy)

Die Rasterkraftmikroskopie unterliegt nicht mehr der Beschränkung auf leitfähige Proben. Die Abtastspitze sitzt auf einem Federbalken, der in Schwingungen versetzt wird. Ein Laserstrahl wird auf das Ende das Federbalkens gerichtet und die Position des reflektierten Strahls wird ortsempfindlich detektiert. Bevor die Spitze die Oberfläche berührt, ändern die kurzreichweitigen van-der Waals Kräfte der Oberflächenatome das Schwingungsverhalten des Federbalkens. Zieht man jetzt den Federbalken wieder soweit zurück, dass der Balken wieder frei schwingt, hat man über diese Änderung wieder eine Höheninformation und in Kombination mit dem Rastern in X und Y-Richtung wieder ein bildgebendes Verfahren.

Ansprechpartner:

Herr Dr. U. Breuer Tel.: 02461-61 5364


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