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Zentralinstitut für Engineering, Elektronik und Analytik (ZEA)
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Rastertunnelmikroskopie (STM - Scanning Tunneling Microscopy)

Das Rastertunnelmikroskop eignet sich zur Mikroskopie von leitenden Oberflächen oder Strukturen. Dabei wird eine spitze Nadel als Sonde verwendet, die über die abzubildende Oberfläche bewegt wird ohne sie zu berühren. Man nutzt dabei den Effekt aus, das es schon bei einer Annäherung der Spitze von einigen Atomabständen eine quantenmechanische Wahrscheinlichkeit gibt, dass ein sogenannter Tunnelstrom fließen kann. Rastert man die Spitze über die Probe und regelt über den Tunnelstrom die Höhe der Spitze über der Probe nach, so erhält man eine Abbildung der Oberfläche. Die Bewegungen der Spitze wird durch Piezoelektrische Keramiken realisiert, die sich beim Anlegen einer elektrischen Spannung verformen bzw. ausdehnen oder kontrahieren können.

Ansprechpartner:

Herr Dr. U. Breuer Tel.: 02461-61 5364


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