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Central Institute for Engineering, Electronics and Analytics (ZEA)
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Einweihung TOF-SIMS IV 24.07.2003

Dr. U. Breuer, ZEA-3
Oberflächenanalytik in der Forschung Applikationen und künftige Herausforderungen (PDF-Datei)

Dr. W. Schröder, ICG
Imaging SIMS analysis of biological samples (PDF-Datei)

Dr. M. Terhorst, ION-TOF GmbH
Prinzip, Gerätetechnik und Anwendungen der Flugzeit- Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS) (PDF-Datei)


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