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Instrumentierung

Das ER-C ist eines der weltweit führenden Institute für hochauflösende Elektronenmikroskopie und hat eine lange Tradition in der Entwicklung von Methoden für die hochauflösende Elektronenmikroskopie. Unter der früheren Leitung von Professor Knut W. Urban wurde hier in den 1990er Jahren aberrationskorrigierte Elektronenoptiken mitentwickelt und ein allererster Prototyp eines aberrationskorrigierten Elektronenmikroskops installiert.

Heute sind ER-C-Wissenschaftler in verschiedenen Forschungsbereichen tätig:

  • Methodenentwicklung zur analytischen und hochauflösenden Elektronenmikroskopie und Entwicklung der Sub-ångström- und Sub-Elektronenvolt-Mikroskopie.
  • Materialwissenschaft und hochauflösende Charakterisierung in verschiedenen Bereichen wie Elektrokeramiken, Oxid-Supraleiter, spintronische Materialien, Halbleiter, komplexe Metalllegierungen und Katalysatormaterialien.
  • Die Abteilung für Strukturbiologie (ER-C-3) verwendet die Kryo-Elektronenmikroskopie als zentrale Methode zur Untersuchung der Strukturbiologie grundlegender zellulärer Prozesse.

Das ER-C betreibt derzeit sechs aberrationskorrigierte hochauflösende (Raster-) Transmissionselektronenmikroskope und viele zusätzlicher Elektronenmikroskope. Zusätzliche Geräte für die mikrostrukturelle Charakterisierung, für moderne In-situ-Experimente und Probenvorbereitung ist ebenfalls vorhanden. Weitere Informationen finden Sie auf dieser Website.


Aberrationskorrigierte Transmissionselektronenmikroskope

Aberration corrected electron microscopesCopyright: FEI Company Inc.



Das FEI Titan G2 80-200 ChemiSTEM ist ein sondenkorrigiertes, analytisches STEM, welches mit einem Quadranten-Segmentdetektor, Super-X EDS und Dual EELS System ausgerüstet ist. 


Mehr@er-c.org


Das FEI Titan G2 60-300 HOLO ist ein abbildungskorrigiertes TEM, welches mit Kühllamellen, einem geteilten Polstück mit breitem Spalt, einem Direktelektronendetektor und zwei bis drei Doppelprismas ausgestattet ist. Es ist für in situ TEM, die Abbildung von Magnetfeldern und biologischen Proben geeignet.


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Das FEI Titan 50-300 PICO ist ein (S)TEM mit doppelter sphärischer und chromatischer Aberationskorrektur kombiniert mit einem Monochromator, zwei Elektronendoppelprismas und einem Direktelektronendetektor hinter einem Nachsäulenenergiefilter. Es liefert sowohl im TEM als auch im STEM Modus eine räumliche Auflösung von unter 50 pm.


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Das FEI Titan 80-300 STEM ist ein sondenkorrigiertes STEM, welches mit einem Monochromator und einem Nachsäulenenergiefilter ausgestattet ist.


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Das FEI Titan 80-300 TEM ist in abbildungskorrigiertes TEM welches für hochauflösenden TEM Abbildungsstudien ausgelegt ist.


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Das Hitachi HF5000 ist ein sondenkorrigiertes Umgebungs-STEM, welches mit einer kalten Feldemissionskathode, Pixeldetektoren, einem Dual-EDS Detektor und einem Nachsäulenenergiefilter ausgestattet ist.
Transmissions-Elektronenmikroskope


Das Tecnai G2 F20 ist ein vielseitiges Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop, welches für die Analyse einer Vielzahl an gebräuchlichen und außergewöhnlichen Festkörpermaterialien perfekt ausgestattet ist.


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Zeiss Libra 120 T


Instrumente für biologische Proben


Das TFS Talos 120C Transmissions-Elektronenmikroskop ist vor allem zur Probenvorbereitung mittels negative stain, aber auch für Kryo-Elektronenmikroskopie geeignet.


Das TFS Talos Arctica ist ein 200 kV transmissions Kryo-Elektronenmikroskop mit field emission gun (FEG) zur hochauflösenden Strukturaufklärung. Es ist mit einem Gatan Bioquantum K3 direct electron Detektor mit Energiefilter ausgestattet.

Der TFS Vitrobot Mark IV wird zur Herstellung von Kryo-Proben benutzt. Flüssige biologische Proben werden automatisiert mittels blotting-Papier auf die gewünschte Dicke reduziert und in flüssigem Ethan schockgefroren. Dabei entsteht dünnes, glasartiges, sog.Vitreous Eis, das die biologischen Proben einbettet.

Rasterelektronenmikroskope


Das JEOL 7400F ist ein Rasterelektronenmikroskop, das mit einer Kaltfeld-Emissionskanone ausgestattet ist und in erster Linie für Analysen verwendet werden soll, bei denen eine ultrahohe Auflösung erforderlich ist.


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Das JEOL 840A ist ein Rasterelektronenmikroskop mittlerer Auflösung, das für konventionelle Mikrostrukturanalysen verwendet wird.


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Instrumente mit fokussiertem Ionenstrahl


Das FEI Helios NanoLab 400S ist ein FIB-System (Focused Ion Beam), das im Zweistrahlmodus betrieben wird.


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Das FEI Helios NanoLab 460F1 ist eine hochentwickelte Zweistrahl-FIB-SEM-Plattform für bildgebende und analytische Messungen, für die Präparation von Proben und Nadeln in der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und Atomsonden (AP) sowie für die Prozessentwicklung und Prozesssteuerung.

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