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Instrumentierung

Aberrationskorrigierte Transmissionselektronenmikroskope

Beschreibung

Aberration corrected electron microscopesCopyright: FEI Company Inc.



Das FEI Titan G2 80-200 ChemiSTEM ist ein (Raster-) Transmissionselektronenmikroskop ausgestattet mit einer hoch-brillianten Feldemissionselektronenquelle.


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Das FEI Titan G2 60-300 HOLO ist ein Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop, welches speziell auf Elektronenholographie und in situ TEM Analysen ausgerichtet ist.


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Das FEI Titan 50-300 PICO ist ein einzigartiges Transmissionselektronenmikroskop der vierten Generation, welches mit einer hoch-brillianten Feldemissionselektronenquelle, einer Monochromator-Einheit und einem Cs Sondenkorrektor ausgestattet ist.


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Das FEI Titan 80-300 STEM ist ein Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop, welches mit einem Element zur sphärischen Aberationskorrektur, einem Elektronenmonochromator und einem Energiefiltersystem ausgestattet ist.


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Das FEI Titan 80-300 TEM ist ein Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop, welches mit einem Element zur sphärischen Aberationskorrektur ausgestattet ist.


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Transmissions-Elektronenmikroskope

Beschreibung


Das Tecnai G2 F20 ist ein vielseitiges Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop, welches für die Analyse einer Vielzahl an gebräuchlichen und außergewöhnlichen Festkörpermaterialien perfekt ausgestattet ist.


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Zeiss Libra 120 T

Hitachi HF5000

Instrumente für biologische Proben

Beschreibung


Das TFS Talos 120C Transmissions-Elektronenmikroskop ist vor allem zur Probenvorbereitung mittels negative stain, aber auch für Kryo-Elektronenmikroskopie geeignet.


Das TFS Talos Arctica ist ein 200 kV transmissions Kryo-Elektronenmikroskop mit field emission gun (FEG) zur hochauflösenden Strukturaufklärung. Es ist mit einem Gatan Bioquantum K3 direct electron Detektor mit Energiefilter ausgestattet.

Der TFS Vitrobot Mark IV wird zur Herstellung von Kryo-Proben benutzt. Flüssige biologische Proben werden automatisiert mittels blotting-Papier auf die gewünschte Dicke reduziert und in flüssigem Ethan schockgefroren. Dabei entsteht dünnes, glasartiges, sog.Vitreous Eis, das die biologischen Proben einbettet.

Rasterelektronenmikroskope

Beschreibung


Das JEOL 7400F ist ein Rasterelektronenmikroskop, das mit einer Kaltfeld-Emissionskanone ausgestattet ist und in erster Linie für Analysen verwendet werden soll, bei denen eine ultrahohe Auflösung erforderlich ist.


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Das JEOL 840A ist ein Rasterelektronenmikroskop mittlerer Auflösung, das für konventionelle Mikrostrukturanalysen verwendet wird.


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Instrumente mit fokussiertem Ionenstrahl

Beschreibung


Das FEI Helios NanoLab 400S ist ein FIB-System (Focused Ion Beam), das im Zweistrahlmodus betrieben wird.


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Das FEI Helios NanoLab 460F1 ist eine hochentwickelte Zweistrahl-FIB-SEM-Plattform für bildgebende und analytische Messungen, für die Präparation von Proben und Nadeln in der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und Atomsonden (AP) sowie für die Prozessentwicklung und Prozesssteuerung.

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