Titelblatt des "Journal of Applied Crystallography" für JCNS-3
08. Oktober 2024
Als Deckblatt der Oktoberausgabe des „Journal of Applied Crystallography“ wurde der gemeinsame Artikel des Instituts für Kristallographie und JCNS-3, in Zusammenarbeit mit der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), dem Max-von-Laue-Paul-Langevin-Institut (ILL) und Freiberger Compound Materials (FCM), mit dem Titel „Promise of GaAs 200 in Small-Angle Neutron Scattering for Higher Resolution“ (Magerl, A., et al., Applied Crystallography, 57.5 (2024)) von den Herausgebern ausgezeichnet.
In der Neutronenstreuung (wie auch in der Röntgenstreuung) werden häufig strukturelle Probleme auf atomarer oder molekularer Größe betrachtet. Wesentliche Fragestellungen nicht zuletzt bei anwendungsbezogenen Problemen sind aber auch auf mesoskopischer Skala und größer zu lösen. Um in diesem Feld forschen zu können wurde die Kleinwinkelstreuung entwickelt. Mit den üblichen Kleinwinkeldiffraktometern nach dem Prinzip der Lochkamera (ohne optische Elemente) können damit Objekte bis zu 2 µm sichtbar gemacht werden. Die Bonse-Hart Methode (BH) als eine spezielle Kleinwinkeltechnik bedient sich zweier perfekter Kristalle und erreicht Größen bis zu 30 µm. Dabei werden heute ausschließlich strukturell perfekte Si-Kristalle verwendet. Ersetzt man allerdings bei BH das Si durch den GaAs 200 Reflex können theoretisch Größen bis zu 300 µm abgebildet werden. In einem ersten Versuch ist ein Größenlimit von 210 µm gelungen.
Strukturen dieser Größe können natürlich auch mit anderen Methoden untersucht werden, nicht zuletzt mit einem Lichtmikroskop. Und dennoch gibt es viele Fragestellungen, die mit einer anderen Strahlungsart komplementär betrachtet werden sollen und Neutronen mit ihren einzigartigen Streukonstrasten für unterschiedliche Elemente, ihrer Isotopenempfindlichkeit oder Sensibilität auf magnetische Phänomene sind hierbei in besonderer Weise attraktiv.
Originalpublikation:
The promise of GaAs 200 in small-angle neutron scattering for higher resolution
A. Magerl, H. Lemmel, M. Appel, M. Weisser, U. Kretzer, M. Zobel
Journal of Applied Crystallography, Vol. 57, Part 5, October 2024