Infrastruktur - Mikroskopie & Diffraktion
Wir verfügen über einen einzigartigen und hochmodernen Pool an Elektronenmikroskopen, Rastersondenmikroskopen, Diffraktionsspektroskopen und Tomographen, wie im Einzelnen folgend aufgeführt.
Elektronenmikroskopie
- Laser Scanning Mikroskopie (LSM)
- ZEISS LSM 980
- Leica Stellaris 5
- Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
- JEOL Grand Arm 2
- JEOL F200
- Chemi-STEM (ER-C)
- Scanning Elektronenmikroskopie (SEM)
- TESCAN Mira
- Gemini
- Focused Ion Beam (FIB)
- TESCAN Amber X Cryo Plasma
- ZEISS Cryo Crossbeam
- Helios (ER-C)
- in-situ SEM und TEM Halter
- DENSSolutions B.V. (Climate Infinity, Stream Infinity, Artic, etc.)
- Insight Chips
- Ion-Polisher
- JEOL IB19530 CCP
Röntgen-Computertomographie
- micro-CT
- Xradia Versa 620
- nano-CT
- Xradia Ultra 810
Röntgen-Diffraktion
- PXRD
- Panalytical Empyrean (including XAXS and WAXS modes as an option)
- SCXRD
- Bruker D8 Venture Double Source
- SAXS/WAXS
- Xenocs Xeuss 3.0 triple source
- STOE STADI P
- XPS
- PHI GENESIS
Rastersondenmikroskopie
- Rasterkraftmikroskopie (AFM)
- Bruker Dimension Icon in einem Handschuhkasten inklusive elektrochemischer Zelle und mechanischer Abbildungsmodi
- Bruker Dimension Icon inklusive elektrochemischer Zelle und mechanischer Abbildungsmodi
- Agilent 5500 AFM mit elektrochemischer Zelle und eingebautem Potentiostaten
- Rastertunnelmikroskopie (STM)
- LPM Custom-Designed Video-Rate Rastertunnelmikroskop mit bis zu 25 Bildern/Sekunde unter kontrollierte Luftfeuchtigkeitsbedinungen und Gasatmosphäre in elektrochemischer Zelle mit Transfer für luft- und feuchtigkeitsempfindlichen Materialien
- Nanoindenter
- Hysitron TI980 mit elektrochemischer Zelle geeignet für Hochtemperaturmessungen bis 850°C mit kontrollierter Umgebungsfeuchtigkeit
- Optische Mikroskopie
- Olympus BX53M
Letzte Änderung: 26.02.2025