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Direct measurement of anisotropic resistivity in thin films using a 4-probe STM
Jülich : Forschungszentrum Jülich GmbH Zentralbibliothek, Verlag, Schriften des Forschungszentrums Jülich. Reihe Schlüsseltechnologien / Key Technologies 213, VIII, 129 S. (2020)2020 = Universität Köln, 2019   Files  Fulltext by OpenAccess repository BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS

http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png Book/Dissertation / PhD Thesis Jugovac, M. (Corresponding author)FZJ*
Morphology and electronic structure of graphene supported by metallic thin films
Jülich : Forschungszentrum Jülich GmbH Zentralbibliothek, Verlag, Schriften des Forschungszentrums Jülich. Reihe Schlüsseltechnologien / Key Technologies 224, XI, 151 S. (2020)2020 = Universität Duisburg, Diss., 2020   Files  Fulltext by OpenAccess repository BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS