Arbeitsgruppen

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Elektrokeramik und nanoelektronische Oxide

Die Gruppe „Elektrokeramik und nanoelektronische Oxide“ erforscht mit Hilfe der hochauflösenden Transmissionselektronenmikroskopie den Zusammenhang zwischen den Strukturen und Eigenschaften von Elektrokeramik und dünnen Oxidschichten auf atomarer Ebene.

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Elektromagnetische Feldabbildung

Die Gruppe "Electromagnetic Field Mapping" wendet die Elektronenholographie und verwandte Techniken für die Untersuchung von Materialien und Geräten im Nano-Maßstab an und entwickelt neue Methoden, die auf Konzepten wie "sculpted electron beams" basieren.

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Elektronenoptik und Methodenentwicklung

Die Gruppe „Elektronenoptik und Methodenentwicklung“ arbeitet an der Entwicklung modernster Techniken der Transmissionselektronenmikroskopie, einschließlich Hardware, Theorie und Simulation.

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Metallische Legierungen und Kristallwachstum

Das wissenschaftliche Hauptinteresse der Gruppe gilt der Untersuchung der Auswirkungen der strukturellen Komplexität auf die physikalischen Eigenschaften metallischer Werkstoffe.

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Nanomaterialien für grüne Energie

Die Gruppe Nanomaterialien für grüne Energie befasst sich mit der Untersuchung der Beziehung zwischen der Mikrostruktur auf atomarer Ebene und der elektrochemischen Leistung von Nanopartikel-Katalysatoren, wobei der Schwerpunkt auf der gezielten Entwicklung verbesserter Katalysatoren in Bezug auf Aktivität und Stabilität liegt.

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Nanofabrikation und Quantensensorik

Die Gruppe stellt neuartige Josephson-Übergänge und Heterostrukturen auf der Basis von d- und s-Wellen-Supraleitern her und untersucht deren Eigenschaften auf der Größenskala der Kohärenzlänge.

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Rastertunnelmikroskopie und -spektroskopie

Die Gruppe Rastertunnelmikroskopie und -spektroskopie befasst sich mit der Physik und der Funktionalität von Halbleiteroberflächen und -grenzflächen, mit besonderem Schwerpunkt auf zukünftigen Energiegewinnungsmaterialien und Nanostrukturen.

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Helmholtz-Nachwuchsforschergruppe Dr. Knut Müller-Caspary

moreSTEM - Impulsaufgelöste Rastertransmissionselektronenmikroskopie.

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Letzte Änderung: 22.02.2023