Ernst Ruska-Centrum für Mikroskopie und Spektroskopie mit Elektronen (ER-C)

Physik Nanoskaliger Systeme (ER-C-1)

Theorie

Über

Die Theorie der Elektronenmikroskopie umfasst die Modellierung aller Komponenten eines Mikroskops und die Wechselwirkung der Elektronen mit der zu untersuchenden Probe, sowie die Simulation und Interpretation der experimentell gemessenen Spektren und Bilder. Darüber hinaus befasst sich die Elektronenoptik mit der Modellierung und Simulation neuartiger optischer Komponenten. Die Anwendung der Theorie führt zur Entwicklung numerischer Algorithmen für die digitale Bildverarbeitung, die auf vielfältige Weise zur Lösung materialwissenschaftlicher Probleme eingesetzt wird.

Forschungsthemen

Instrumentenentwicklung und -verbesserung

Charakterisierung der Mikroskopleistung und Auflösungsbewertung

Mikroskopcharakterisierung und Aberrationsmessung

Aberrationsüberwachung und -korrektur

Quantitative hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie

Numerische Bildanalyse, Bildsimulation und Datenverarbeitung

Simulation von HRTEM/HRSTEM-Bildgebung und Entwicklung von Phasenabrufmethoden

Wellenfunktionsrekonstruktion

Theorie der Elektronenbeugung und -bildgebung

Simulation der Elektronenstreuung und Lösung des inversen Streuproblems

Elektrostatische Potentialrekonstruktion

Theorie und Charakterisierung von Elektronendetektoren

Kontakt

Dr. Markus Lentzen

Staff Scientist, ER-C-1

er-c
er-c-1

Gebäude 05.7 /
Raum 2020

+49 2461/61-85177

E-Mail

Ausgewählte Publikationen

Lentzen, M. (2023). Spin-Dependent Nonlinear Contrast Transfer in Transmission Electron Microscopy. Microscopy and microanalysis, 29(1), 418-426.

Urban, K. W., Barthel, J., Houben, L., Jia, C. L., Jin, L., Lentzen, M., Mi, S.-B., Thust, A. & Tillmann, K. (2023). Progress in atomic-resolution aberration corrected conventional transmission electron microscopy (CTEM). Progress in Materials Science, 133, 101037.

Lentzen, M. (2019). Relativistic correction of atomic scattering factors for high-energy electron diffraction. Foundations of Crystallography, 75(6), 861-865.

Lentzen, M. (2017). The refractive index in electron microscopy and the errors of its approximations. Ultramicroscopy, 176, 139-145.

Barthel, J., Lentzen, M., & Thust, A. (2017). On the influence of the electron dose rate on the HRTEM image contrast. Ultramicroscopy, 176, 37-45.

Lentzen, M. (2014). No surprise in the first born approximation for electron scattering. Ultramicroscopy, 136, 201-210.

Jia, C. L., Barthel, J., Gunkel, F., Dittmann, R., Hoffmann-Eifert, S., Houben, L., Lentzen, M., & Thust, A. (2013). Atomic-scale measurement of structure and chemistry of a single-unit-cell layer of LaAlO3 embedded in SrTiO3. Microscopy and Microanalysis, 19(2), 310-318.

Urban, K. W., Jia, C. L., Houben, L., Lentzen, M., Mi, S. B., & Tillmann, K. (2009). Negative spherical aberration ultrahigh-resolution imaging in corrected transmission electron microscopy. Philosophical Transactions of the Royal Society A: Mathematical, Physical and Engineering Sciences, 367(1903), 3735-3753.

Lentzen, M. (2008). Contrast transfer and resolution limits for sub-angstrom high-resolution transmission electron microscopy. Microscopy and microanalysis, 14(1), 16-26.

Lentzen, M. (2006). Progress in aberration-corrected high-resolution transmission electron microscopy using hardware aberration correction. Microscopy and Microanalysis, 12(3), 191-205.

Jia, C. L., Lentzen, M., & Urban, K. (2004). High-resolution transmission electron microscopy using negative spherical aberration. Microscopy and Microanalysis, 10(2), 174-184.

Lentzen, M., Jia, C. L., & Urban, K. (2003). Atomic Structure Imaging Using an Aberration-Corrected Transmission Electron Microscope. Microscopy and Microanalysis, 9(S03), 48-49.

Letzte Änderung: 10.04.2025

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