Entwicklung eines Multi-Tip-SPM-Instruments

In der Quanten-Nanowissenschaft ist es unerlässlich, elektronische Transportmessungen auf der Nanoskala durchzuführen. Wir entwickeln ultrakompakte Mehrspitzen-Rastersondeninstrumente, die wir als "Multimeter auf der Nanoskala" einsetzen.

Das Multimeter auf der Nanoskala, bei dem die Spitzen eines Mehrspitzen-Rastersondenmikroskops als frei positionierbare Kontakte verwendet werden, ist eine Alternative zu lithographisch strukturierten Kontakten. Die Vorteile dieses Ansatzes sind:

• Die In-situ-Kontaktierung von "as grown"-Nanostrukturen noch im Vakuum hält die empfindlichen Nanostrukturen frei von Verunreinigungen, die oft durch Lithographieschritte verursacht werden.
• Sowohl eine flexible Positionierung der Kontaktierungsspitzen als auch unterschiedliche Kontaktkonfigurationen sind leicht zu realisieren.
• Da jede der Spitzen ein Rastersondenmikroskop mit atomarer Auflösung ist, können die Kontakte mit atomarer Präzision platziert werden.
• Das Sondieren mit SPM-Spitzen kann sowohl nichtinvasiv (hochohmig) als auch invasiv (niederohmig) erfolgen.

Unsere ultrakompakten Multi-Tip-SPMs sind über das Spin-off-Unternehmen mProbes kommerziell erhältlich.