Beugungsmethoden und Elektronenmikroskopie

Das Bannerbild zeigt ein LEEM-Bild einer 0°-gedrehten Graphen-Monolage auf einem 6H-SiC(0001)-Substrat, welche mit der oberflächengesteuerten Wachstumsmethode hergestellt wurde.

Über

Beugungsmethoden liefern quantitative Strukturinformationen über periodische Strukturen und sind daher eine Ergänzung zur Rastersondenmikroskopie. Wir setzen sowohl die Elektronen- als auch die Röntgenbeugung ein, um molekulare und Quantenmaterialien zu untersuchen. Eine besondere Rolle spielt unser aberrationskorrigiertes Elektronenspektromikroskop, das nanometeraufgelöste Mikroskopie mit Mikrobeugung und spektroskopischen Möglichkeiten kombiniert.

Forschungsthemen

  • Aberrationskorrigierte Spektromikroskopie
  • Chemisch aufgelöste vertikale Strukturen mit Sub-Angström-Auflösung
  • Grenzflächen zwischen Molekülen und kristallinen Phasen
  • Epitaktische 2D-Materialien

Kontakt

Prof. Dr. Christian Kumpf

PGI-3

Gebäude 02.4w / Raum 319

+49 2461/61-1452

E-Mail

Mitglieder

Hao YinPostdoc at Peter Grünberg Institute (PGI-3) Gebäude 02.4w / Raum 128+49 2461/61-6313
Monja StettnerPhD student at Peter Grünberg Institute (PGI-3) Gebäude 02.4w / Raum 128+49 2461/61-6313
Publikationen
  • N. Tilgner, S. Wolff, S. Soubatch, T.-L. Lee, A. D. Pena Unigarro, S. Gemming, F. S. Tautz, T. Seyller, C. Kumpf, F. Göhler, P. Schädlich, "Reversible switching of the environment-protected quantum spin Hall insulator bismuthene at the graphene/SiC interface", Nat. Commun. 16, 6171 (2025). https://doi.org/10.1038/s41467-025-60440-x
  • S. Wolff, M. Hutter, P. Schädlich, H. Yin, M. Stettner, S. Wenzel, F. S. Tautz, F. C. Bocquet, T. Seyller, and C. Kumpf, “Bi-intercalated epitaxial graphene on SiC(0001)”, New Journal of Physics 26, 103009 (2024). https://doi.org/10.1088/1367-2630/ad7f7d

Letzte Änderung: 01.08.2025