Mehrspitzen-Rastersondenmikroskopie
Das Bannerbild zeigt vier Spitzen eines Multispitzen-Rastersondenmikroskops, die ein dünnes Flake des topologischen Isolator-Materials BiBr kontaktieren, um elektrische Messungen auf der Mikroskala durchzuführen.
Über
Wir untersuchen die faszinierenden Ladungstransporteigenschaften von Quantenmaterialien wie topologischen Isolatoren und neuartigen 2D-Materialien. Um den besten Zugang zu den Ladungstransporteigenschaften im Nanobereich zu erhalten, entwickeln wir neuartige Multi-Tip-SPM-Instrumente und entsprechende Messverfahren.
Forschungsthemen
- Entwicklung eines Multi-Tip-SPM-Instruments
- Ladungstransport an Nanostrukturen von Quantenmaterialien
- Ladungstransport an Oberflächen
Mitglieder
Forschung
Publikationen
Aktuelle Publikationen
- Arthur Leis, Michael Schleenvoigt, Kristof Moors, Helmut Soltner, Vasily Cherepanov, Peter Schüffelgen, Gregor Mussler, Detlev Grützmacher, Bert Voigtländer, Felix Lüpke, F. Stefan Tautz; Probing Edge State Conductance in Ultra-Thin Topological Insulator Films. 2 August 2022 Advanced Quantum Technologies Volume 5, Issue 9 2200043 https://doi.org/10.1002/qute.202200043
- A Leis, V Cherepanov, B Voigtländer, FS Tautz; Nanoscale tip positioning with a multi-tip scanning tunneling microscope using topography images. 7 January 2022 Rev. Sci. Instrum. 93, 013702 https://doi.org/10.1063/5.0073059
- Arthur Leis, Michael Schleenvoigt, Vasily Cherepanov, Felix Lüpke, Peter Schüffelgen, Gregor Mussler, Detlev Grützmacher, Bert Voigtländer, F Stefan Tautz; Front Cover: Lifting the Spin-Momentum Locking in Ultra-Thin Topological Insulator Films. 8 November 2021 Advanced Quantum Technologies Volume 4, Issue 11 2170111 https://doi.org/10.1002/qute.202170111
- Sven Just, Felix Lüpke, Vasily Cherepanov, F Stefan Tautz, Bert Voigtländer; Parasitic conduction channels in topological insulator thin films. 11 June 2020 Phys. Rev. B 101, 245413 https://doi.org/10.1103/PhysRevB.101.245413
- Arthur Leis, Michael Schleenvoigt, Abdur Rehman Jalil, Vasily Cherepanov, Gregor Mussler, Detlev Grützmacher, F Stefan Tautz, Bert Voigtländer; Room temperature in-situ measurement of the spin voltage of a BiSbTe3 thin film. 18 February 2020 Scientific Reports volume 10, Article number: 2816 https://doi.org/10.1038/s41598-020-59679-9
Letzte Änderung: 09.12.2024