Mehrspitzen-Rastersondenmikroskopie

Das Bannerbild zeigt vier Spitzen eines Multispitzen-Rastersondenmikroskops, die ein dünnes Flake des topologischen Isolator-Materials BiBr kontaktieren, um elektrische Messungen auf der Mikroskala durchzuführen.

Über

Wir untersuchen die faszinierenden Ladungstransporteigenschaften von Quantenmaterialien wie topologischen Isolatoren und neuartigen 2D-Materialien. Um den besten Zugang zu den Ladungstransporteigenschaften im Nanobereich zu erhalten, entwickeln wir neuartige Multi-Tip-SPM-Instrumente und entsprechende Messverfahren.

Forschungsthemen

  • Entwicklung eines Multi-Tip-SPM-Instruments
  • Ladungstransport an Nanostrukturen von Quantenmaterialien
  • Ladungstransport an Oberflächen

Kontakt

Prof. Dr. Bert Voigtländer

PGI-3

Gebäude 02.4w / Raum 318

+49 2461/61-4116

E-Mail

Mitglieder

Dr. Vasily CherepanovSenior scientist at Peter Grünberg Institute (PGI-3) Gebäude 02.4 / Raum 322+49 2461/61-6636
Dr. Denis KrylovResearch engineer at Peter Grünberg Institute (PGI-3) Gebäude 02.4w / Raum 129+49 2461/61-3403
Dr. Timofey BalashovPostdoc at Peter Grünberg Institute (PGI-3) Gebäude 02.4w / Raum 320+49 2461/61-3469
Jonathan Karl HofmannPostdoc at Peter Grünberg Institute (PGI-3) Gebäude 02.4w / Raum 126+49 2461/61-6362
Publikationen
  • J. K. Hofmann, H. Jeon, S. M. Hus, Y. Zhang, M. Zheng, T. Wichmann, A.-P. Li, J.-J. Zhou, Z. Wang, Y. Yao, B. Voigtländer, F. S. Tautz, and F. Lüpke, “Shear-resistant topology in quasi one-dimensional van der waals material Bi4Br4”, Phys. Rev. B 111, 245415 (2025). https://doi.org/10.1103/tdp5-wmqc
  • A. Leis, M. Schleenvoigt, K. Moors, H. Soltner, V. Cherepanov, P. Schüffelgen, G. Mussler, D. Grützmacher, B. Voigtländer, F. Lüpke, and F. S. Tautz, “Probing edge state conductance in ultra-thin topological insulator films”, Adv. Quan-
    tum Technol.
    5, 2200043 (2022). https://doi.org/10.1002/qute.202200043
  • A. Leis, V. Cherepanov, B. Voigtländer, and F. S. Tautz, “Nanoscale tip positioning with a multi-tip scanning tunneling microscope using topography images”, Rev. Sci. Instrum. 93, 013702 (2022). https://doi.org/10.1063/5.0073059
Letzte Änderung: 01.08.2025