Wissenschaft online: "Mit Ionenstrahlen auf Spurensuche", Dr. Sören Möller (IMD-2)

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Was wird präsentiert:

In seinem Vortrag stellt Dr. Sören Möller eine spannende Methode zur Materialuntersuchung vor: die MeV Ion Beam Analysis – auf Deutsch etwa „Materialanalyse mit hochenergetischen Ionenstrahlen“.

Dabei werden winzige Teilchen (Ionen), die auf sehr hohe Geschwindigkeiten beschleunigt wurden, auf ein Material geschossen. Beim Auftreffen geben diese Ionen Informationen darüber preis, aus welchen chemischen Elementen das Material besteht und wie es im Inneren aufgebaut ist. Man kann damit also sozusagen in das Material „hineinschauen“, ohne es zu beschädigen.

Hintergrund:

Diese Technik wird im Forschungszentrum Jülich schon seit einigen Jahren eingesetzt. Neuere technische Verbesserungen machen sie heute noch leistungsfähiger: Man kann Materialien präziser analysieren und sogar detailreiche Bilder davon erzeugen.

Im seinem Vortrag am Donnerstag, 25. September 2025 zeigt Dr. Sören Möller, wie die physikalischen Grundlagen dieser Methode funktionieren und wie sie in der Praxis angewendet wird. Dazu erläutert er Beispiele aus verschiedenen Forschungsbereichen – von Batterieforschung bis hin zur Plasmaphysik, also der Erforschung extrem heißer Gase, wie sie z. B. in der Kernfusion vorkommen.

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Wir freuen uns auf den Austausch mit Ihnen!

Der Vortrag findet auf der Plattform MS Teams statt. Hier ist der Einwahllink für alle Veranstaltungen.